高性能激光薄膜元件测试技术

报告人简介：电子科技大学教授，博士生导师，享受国务院政府特殊津贴，德国洪堡学者，2004年中国科学院引进国外杰出人才类“百人计划”入选者（终期评估优秀），国际标准化组织（ISO）技术专家，中国科学院大学（研究生院）第三届学位委员会学科群学位分委员会（材料科学与光电技术）委员和光学工程学科教学专家组成员，全国光学与光子学标准化委员会电子光学系统分委会委员，《Photoacoustics》、《光电工程》和《大气与环境光学学报》编委。曾获国际光声光热协会（IPPA）青年成就奖和中国科学院西部学者突出贡献奖。主要研究方向为光学检测技术、激光技术与应用等，主持科研项目50余项，牵头制定（撰写）相关国际（ISO）标准2项、国家标准3项，发表学术论文310余篇，授权美国和中国发明专利70余项。

报告摘要：高性能激光薄膜元件具有极高的反射率/透过率，极低的光学损耗（吸收损耗和散射损耗），准确测量这些性能参数是制备极高性能激光薄膜元件的基础。本报告简要回顾了激光薄膜元件反射率、透过率、吸收损耗和散射损耗的测试技术基础及测试标准，介绍了报告人团队近年来在高性能激光薄膜元件性能测试方向的研究进展，包括基于光腔衰荡技术的反射薄膜元件极高反射率、极低透过率、极低散射损耗的准确（亚ppm至ppb量级精度）及同时测量，基于激光量热技术和光热技术的极低吸收损耗的准确（亚ppm量级精度）测量，并介绍了本团队近年来在高性能激光薄膜元件性能测试新技术开发和仪器研发方面的进展。